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Xradia Context microCT 顯微鏡一款大視場(chǎng)、非破壞性3D X射線(xiàn)微米計算機斷層掃描系統。憑借強大的平臺和靈活的軟件控制源及探測器定位,您可以在完整的三維環(huán)境中對大尺寸、重量25 kg內和高尺度樣本進(jìn)行成像,同樣也可以對小樣品進(jìn)行高分辨率的成像。
蔡司 X 射線(xiàn)納米斷層成像和熒光顯微技術(shù),蔡司 Xradia Synchrotron 系列顯微鏡 蔡司在同步加速器實(shí)驗室中的 X 射線(xiàn)顯微鏡裝機量全球靠前,藉此不斷提升先進(jìn)研究機構的實(shí)力。在實(shí)驗室內引入蔡司 X 射線(xiàn)納米斷層成像和熒光顯微技術(shù),讓耗時(shí)且耗費財力的內部開(kāi)發(fā)成為過(guò)去。
創(chuàng )新的 蔡司 Xradia 800 Ultra X射線(xiàn)顯微鏡,將高通量實(shí)驗室 X 射線(xiàn)源與專(zhuān)業(yè)的X 射線(xiàn)光學(xué)器件整合至一套獨立的超高分辨率 CT 掃描 X 射線(xiàn)顯微鏡中,從而填SEM、TEM 或 AFM 等現有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統 microCT 技術(shù)之間的空白。
蔡司 Xradia 810 Ultra X射線(xiàn)顯微鏡 將納米級三維 X 射線(xiàn)的成像性能提升 10 倍。這款創(chuàng )新的 X 射線(xiàn)顯微鏡(XRM) 能在 5.4 keV 的低能量下工作,為中低原子序數樣品及科學(xué)與工業(yè)領(lǐng)域內的材料成像提供更出色的反差和圖像質(zhì)量。
蔡司 Xradia 410 Versa X射線(xiàn)顯微鏡 高性能三維 X 射線(xiàn)顯微鏡技術(shù)解決方案與傳統低成本、低性能且基于投影的計算機斷層掃描(CT)系統之間的空白。多種射線(xiàn)源的選擇可靈活應對多種樣品尺寸和樣品類(lèi)型的成像應用。
沿襲前一代的獲獎設計,射線(xiàn)顯微鏡Xradia 510 Versa已然成為 Xradia Versa 系列中擁有出色三維成像性能的基本款型,但其不包含旗艦產(chǎn)品的高級功能與特性。
蔡司 Xradia 610 & 620 Versa顯微鏡 X射線(xiàn)顯微鏡在科研和工業(yè)研究領(lǐng)域為您開(kāi)啟多樣化應用的新高度?;诟叻直媛屎鸵r度成像技術(shù),Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亞微米級無(wú)損成像的研究界限。
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