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簡(jiǎn)要描述:蔡司MultiSEM全球速度非凡的掃描電子顯微鏡開(kāi)啟電子顯微鏡速度的革新時(shí)代借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?,F如今,您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專(zhuān)為 7 x 24 小時(shí)的連續、可靠運行而設計。只需簡(jiǎn)單設置高性能數據采集流程,MultiSEM 便能夠獨立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。
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借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?,F如今,您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專(zhuān)為 7 x 24 小時(shí)的連續、可靠運行而設計。只需簡(jiǎn)單設置高性能數據采集流程,MultiSEM 便能夠獨立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。
使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM:您可以直觀(guān)靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。
MultiSEM 同時(shí)運用了多條電子束(綠色:照明通路)和多個(gè)探測器。微調探測通路能夠收集大量的二次電子(SE)用于成像。與分光鏡組合使用,可讓二次電子信號到達(紅色:探測通路)多探測器陣列。每條電子束在樣品的一個(gè)位置執行同步掃描程序,以此獲得單個(gè)拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過(guò)合并所有圖像拼片生成整幅圖像。
并行計算機設置程序用于快速記錄數據,確保整體高成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中獨立。
91 條電子束同時(shí)工作,擁有出色的成像速度。
在幾分鐘內對1 mm2的區域成像,分辨率高達 4 nm。
借助經(jīng)優(yōu)化的二次電子探測器,以低信噪比采集高襯度圖像。
MultiSEM 配備有一個(gè)可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。
對整個(gè)樣品成像并發(fā)現所有細節,助力于科研。
自動(dòng)采集方案可實(shí)現大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像,且不丟失可見(jiàn)信息。
使用成熟的ZEN軟件簡(jiǎn)便直觀(guān)地操控 MultiSEM,該軟件被應用于所有蔡司成像系統
智能化自動(dòng)調節程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像
根據樣品的實(shí)際情況,快速輕松地創(chuàng )建復雜的自動(dòng)采集流程
MultiSEM的ZEN 軟件可高速進(jìn)行連續并行成像
開(kāi)放的API軟件接口可提供靈活快速的應用開(kāi)發(fā)
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