用于材料研究的Axio Imager 2 金相顯微鏡

   可重復的結果

   享受無(wú)振動(dòng)的工作條件

   欣賞AxioImager2穩定的成像條件，尤其是在使用高放大倍率或執行時(shí)間依賴(lài)性研究時(shí)。由于A(yíng)xioImager2的機動(dòng)化，可在始終在恒定條件下工作的同時(shí)實(shí)現快速且可重復的結果。

  用于材料研究的蔡司AxioImager2蔡司金相顯微鏡

   用于自動(dòng)材料分析的開(kāi)放式顯微鏡系統

   當您進(jìn)行高級材料研究時(shí)，請在光學(xué)顯微鏡工作流程中引入易用性。使用ZEISSAxioImager2獲得材料的準確且可重復的結果，讓您受益匪淺。選擇適合您的應用的系統。通過(guò)顆粒分析、共焦或相關(guān)顯微鏡等專(zhuān)用解決方案擴展您的儀器。

   可重復的結果

   模塊化設計

   模塊化設計

   獲得增強的靈活性

   無(wú)論是在學(xué)術(shù)研究還是工業(yè)研究中，材料顯微鏡都面臨著(zhù)各種挑戰。借助AxioImager2，您將能夠應對并贏(yíng)得這些挑戰。連接特定于應用的組件并執行例如顆粒分析。研究非金屬夾雜物(NMI)、液晶或基于半導體的MEM。通過(guò)共焦或相關(guān)顯微鏡專(zhuān)用解決方案擴展您的儀器。

    高光學(xué)性能

   實(shí)現出色的對比度和分辨率

   使用不同的對比技術(shù)檢查一系列材料，例如金屬、復合材料或液晶。

   使用反射光并在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉襯度(DIC)、圓微分干涉襯度(C-DIC)、偏振或熒光下觀(guān)察樣品。

   使用透射光并在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉襯度(DIC)、偏振或圓偏振下檢查樣品。對比度管理器確?？芍貜偷恼彰髟O置。