蔡司X射線(xiàn)顯微鏡

   蔡司Xradia800UltraX射線(xiàn)顯微鏡總體描述

   創(chuàng )新的Xradia800Ultra，將高通量實(shí)驗室X射線(xiàn)源與專(zhuān)業(yè)的X射線(xiàn)光學(xué)器件整合至一套獨立的超高分辨率CT掃描X射線(xiàn)顯微鏡中，從而填SEM、TEM或AFM等現有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統microCT技術(shù)之間的空白。

   蔡司Xradia800UltraX射線(xiàn)顯微鏡技術(shù)參數：

   無(wú)損三維X射線(xiàn)成像允許在直接微觀(guān)結構觀(guān)察下對同一樣品進(jìn)行重復成像

   在原位設備中樣品成像保持低至50nm的高分辨率

   用于斷層掃描重構的圖像自動(dòng)調整功能

   視野可在15至60μm的范圍內進(jìn)行切換

   吸收襯度和Zernike相位襯度成像模式

   在實(shí)驗室中開(kāi)發(fā)、準備、測試你計劃的同步實(shí)驗，讓有限的同步輻射時(shí)間更加有效率

   搭配Scout-and-Scan控制系統和基于工作流程的用戶(hù)界面，尤其適合研究人員水平各不相同的中心實(shí)驗室

   特點(diǎn)：

   Xradia800Ultra的分辨率低至50nm，使微觀(guān)結構和進(jìn)程可視化，這些是傳統實(shí)驗室X射線(xiàn)技術(shù)不能實(shí)現的。在X射線(xiàn)能量為8KeV下運行，穿透力和襯度適合各種材料，使您可以觀(guān)察自然狀態(tài)下的結構和材料。

   集成相位襯度技術(shù)的Xradia800Ultra運用Zernike方法在吸收襯度低時(shí)可增強晶界和材料交界處的可見(jiàn)度，使未染色的超結構和納米結構可視化。

   蔡司Xradia800Ultra采用類(lèi)似橫切法的無(wú)損技術(shù)，提供可信賴(lài)的內部3D信息。大工作距離和空氣樣品環(huán)境使您可以輕松的進(jìn)行原位研究。