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簡(jiǎn)要描述:蔡司Sigma 系列掃描電子顯微鏡Sigma 300 性?xún)r(jià)比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器,可快速方便地實(shí)現基礎分析。任何時(shí)間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
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將高級的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節省大量的時(shí)間:設置成像與分析步驟,提高效率。
Sigma 300 性?xún)r(jià)比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器,可快速方便地實(shí)現基礎分析。任何時(shí)間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
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