GeminiSEM 系列低電壓成像電子顯微鏡無(wú)論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類(lèi)型樣品在微觀(guān)世界中清晰、真實(shí)的圖像，提供靈活、可靠的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

蔡司Sigma 系列掃描電子顯微鏡Sigma 300 性?xún)r(jià)比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現基礎分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

蔡司MultiSEM全球速度非凡的掃描電子顯微鏡開(kāi)啟電子顯微鏡速度的革新時(shí)代 借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?，F如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專(zhuān)為 7 x 24 小時(shí)的連續、可靠運行而設計。只需簡(jiǎn)單設置高性能數據采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。

蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡將高性能的掃描電鏡和直觀(guān)的、友好的用戶(hù)界面體驗結合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶(hù)以及新用戶(hù)。無(wú)論是在生命科學(xué)，材料科學(xué)，或例行的工業(yè)質(zhì)量保證。

JetSCAN便攜式掃描電子顯微鏡 整體解決方案中集成了強大的數據分析和風(fēng)險評估功能，是一款用于軸承磨損狀態(tài)監測的優(yōu)秀診斷與預測工具。

蔡司雙束電鏡Crossbeam系列結合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。無(wú)論是用于多用戶(hù)實(shí)驗平臺，還是科研或工業(yè)實(shí)驗室， 利用Crossbeam系列模塊化的平臺設計理念，您可基于自身需求隨時(shí)升級儀器系統（例如使用LaserFIB進(jìn)行大規模材料加工）。